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Nachrichten»Fraunhofer ISE warnt vor Risiken durch unerwartet hohe UV-induzierte Degradation in Topcon-, Perc- und Heterojunction-Zellen

pv magazine Deutschland

04.12.2024 15:05 Uhr

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Fraunhofer ISE warnt vor Risiken durch unerwartet hohe UV-induzierte Degradation in Topcon-, Perc- und Heterojunction-Zellen

Die Forscher des Freiburger Instituts erklärten, dass UV-induzierte Degradation bei allen vorherrschenden Zelltechnologien, einschließlich Topcon-Bauelementen, größere Effizienz- und Spannungsverluste als erwartet verursachen kann. Die Wissenschaftler gehen davon aus, dass Siliziumnitridschichten verwendet werden könnten, um die UV-Stabilität von Topcon im Vergleich zu PECVD-Schichten zu verbessern, die üblicherweise in Perc- und Heterojunction-Zellen verwendet werden. Forscher des deutschen Fraunhofer-Instituts für Solare Energiesysteme ISE haben die Stabilität dreier gängiger Solarzellentechnologien ...

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