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Ad hoc-Mitteilungen:

Nachrichten»Dielectric capping layers improve heterojunction solar module reliability

pv magazine

17.03.2025 08:35 Uhr

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Dielectric capping layers improve heterojunction solar module reliability

A research group from France claims to have found a way to reduce indium consumption in heterojunction solar modules by 85 % while maintaining good performances and durability levels. The scientists tested different cell designs and the use of several capping layers to protect the cell from moisture degradation. A group of researchers led by France's National Solar Energy Institute (INES) - a division of the French Alternative Energies and Atomic Energy Commission (CEA) - has investigated the reliability of heterojunction (HJT) solar panels under heat damp (HD) conditions and has found that the ...

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